ТЕОРЕТИЧЕСКОЕ ОБОСНОВАНИЕ
МЕТОДИКИ
В качестве альтернативного способа получе ния абсолютных характеристик излучения
сплошного спектра предлагается использовать
совокупность получаемых данных со спектро метрического устройства, регистрирующего
спектральное распределение оптического сиг нала посредством его разложения на дисперси онном элементе и последующей фокусировке
на фоточувствительной матрице, и фотофи зического приемника излучения на основе
фотодиода (ФПИФ) с RC-цепью, напряжение на
выходе которой равно интегралу тока зарядки
конденсатор